2020年9月16日上午，应黄庆研究员邀请，北京大学深圳研究生院王新炜研究员访问我实验室，并做了题为“XPS材料表征方法浅谈”的学术报告。实验室青年科研骨干和研究生参加了报告会。

       X射线光电子能谱（XPS）技术是一种重要的材料表面分析技术，被广泛用于表征材料表面的元素组成、原子价态和相对含量。王新炜研究员结合自己在薄膜材料表征方面的研究经验，深入浅出地讲解了XPS技术的基础理论，并运用实例介绍了XPS技术在材料表征应用中的主要方法和注意事项。

       报告过程中，参会人员与王新炜研究员进行了深入交流，王老师对大家在使用XPS技术中遇到的问题和困惑进行了一一解答。此次报告加深了大家对XPS技术理论知识的理解，对大家以后在科研工作中用好XPS技术具有重要作用。

       黄庆向王新炜赠送了实验室的特制小礼物‘MAX相魔方’，感谢他为实验室的学术科研进行专业指导。

实验室主任黄庆研究员向王新炜赠送‘MAX相魔方’

报告会现场